Page 75 - กำหนดมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม นาโนเทคโนโลยี เล่ม๗
P. 75
มอก. 2691 เลม 7–2559
ุ
ี
ิ
ู
ี
ั
ิ
จากการตังสมมตฐานวาอนุภาคนันมลกษณะเกือบเปนทรงกลมและมขนาดเสนผานศนยกลางทางฟสกส
้
้
ื
่
ํ
ํ
่
ื
ี
ี
่
ู
ี
ี
ี
่
ี
ของอนุภาคทเทยบเทากับเสนผานศนยกลางทเคลอนท หรอมคาเทยบเทาทาใหคานวณคาความเขม
่
ี
้
ี
้
ิ
ั
พืนผวละอองลอยได วิธนีไดมการพฒนาเพือใชในการคํานวณพืนทผวของอนุภาคกอนเกาะแนน และ
ี
้
ิ
่
ี
่
ั
ู
ั
การกระจายตวของปรมาตรโดยการใชเสนผานศนยกลางการเคลอนททางไฟฟาสาหรบละอองลอยนา
ํ
ื
ิ
่
่
ั
โน จากความรเกียวกับความหนาแนนของอนุภาคในลกษณะเดียวกันนี ทาใหคานวณคาความเขมขน
ู
ํ
ํ
้
โดยมวลของละอองลอยได โดยทความแมนยําของการประมาณคานีขนอยูกับการตงสมมตฐานเกียวกับ
ึ
้
้
ุ
ิ
้
ั
่
ี
่
ั
ลกษณะเฉพาะทางฟสกสของอนุภาค
ิ
ํ
ั
ิ
ค.5.5 การเก็บตวอยางสาหรบการอธบายลกษณะเฉพาะของวัสดุ
ั
ั
การประเมนสมบัตทางฟสกส-เคมของวัสดุนาโนในอากาศทีสงผลกระทบตอสขภาพของมนุษยเปนสง
ี
ิ
่
ุ
ิ
่
ิ
ิ
่
ู
่
ี
ทจําเปนอยางยิง ดวยพารามเตอร เชน ขนาดอนุภาค รปราง พืนทผว องคประกอบ สภาพกอนเกาะหลวม
ี
่
ิ
้
ิ
ั
สภาพเปนผลก ความสามารถในการละลาย และความคงตวทางชวภาพ เพือใหไดขอมูลพืนฐานในการ
้
ี
่
ึ
ั
ุ
ื
ิ
ิ
ั
ประเมนการรบสมผสและความเปนพิษของวัสดุนาโนใหม ๆ การเคลอบผวบนอนุภาคและประจไฟฟา
ั
ึ
่
ของอนุภาคมีผลกระทบอยางมนัยสาคญตอสภาพกอนเกาะหลวมของอนภาค ซงอาจสงผลกระทบตอ
ํ
ี
ั
ุ
้
ึ
ี
่
ี
ิ
พฤตกรรมทางฟสกสและการตอบสนองทางชวภาพทเกิดขนตามมาดวย การตรวจวิเคราะหโครงสราง
ิ
ในระดับนาโนสเกลของอนุภาคนาโนทีอยูในอากาศเปนสิงทีมีความสําคัญเปนอยางยิงตอการศึกษาทาง
่
่
่
่
่
พิษวิทยา นีเนืองจากโครงสรางในระดบนาโนสเกลของอนุภาคมีผลโดยตรงตอลกษณะการเคลอนทของ
ี
ั
ั
้
่
่
ื
ิ
อนุภาคและตาแหนงทอนุภาคเกิดการสะสมหรอตกคางอยูในระบบทางเดนหายใจซงสงผลตอความเปน
ื
ํ
่
ึ
่
ี
พิษ สาหรบเทคนิคใหมในการตรวจลกษณะเฉพาะของวัสดุนาโนทอยูในอากาศ เชน เทคนิคในการ
ี
่
ั
ํ
ั
ตรวจวิเคราะหกอนเกาะหลวมของ SWCNT นัน อยูในชวงของการพฒนาเทคนิค
ั
้
ี
ู
เทคนิคการวิเคราะหสวนใหญทใชกันเปนประจําในการวิเคราะหขนาด รปราง และองคประกอบของ
่
็
ั
ี
อนุภาคเปนการใชกลองจุลทรรศนอเลกตรอนทมกําลงขยายสง เชน SEM ชนิดปนยิงปลอยสนามไฟฟา
ี
่
ิ
ู
ี
(field emission gun SEM) TEM และ STEM รวมกับเทคนิคการตรวจวิเคราะหองคประกอบเคมดวย
ี
ี
ิ
รงสเอกซ เทคนิค EELS และเทคนิคทใชการเลยวเบนของอเลกตรอน โดยในกรณีทใช SEM และ TEM
่
ี
้
่
ั
ี
็
ั
ึ
ั
่
ี
ี
่
ั
ี
จําเปนตองเตรยมตวอยางอนุภาคใหมความสม่าเสมอและอนุภาคตองทบซอนกันนอยทสด ซงลกษณะ
ุ
ํ
ํ
ั
ในการเตรยมตวอยางดังกลาวนีเปนอปสรรคสาคญในการตรวจวิเคราะหลักษณะเฉพาะของอนุภาคที ่
ุ
ี
ั
้
่
ี
เก็บรวบรวมมาจากอมแพ็กเตอรหรอแผนตกกระทบ เพราะอนุภาคทเก็บรวบรวมดวยอมแพ็กเตอรอยู
ื
ิ
ิ
ํ
ั
รวมกันอยางหนาแนนในบรเวณเดียวกัน ซงอยูบรเวณดานลางหัวพนของอมแพ็กเตอร สาหรบการตรวจ
ิ
ิ
่
ึ
ิ
็
วิเคราะหดวย SEM อนุภาคทมขนาดเสนผานศนยกลางเลกกวา 20 nm สามารถเก็บตวอยางลงบน
ู
ั
ี
่
ี
ั
ฐานรองตวอยางของ SEM ไดโดยตรง โดยการใชวิธีการกรองฝุนดวยไฟฟาสถิต โดยวิธีการดังกลาวนี ้
ึ
ี
่
่
ี
ู
อาจมขอจํากัดในการเกบตวอยางอนุภาคทีมขนาดเสนผานศนยกลางใหญเกิน 200 nm ขนไป ซงเปน
็
ั
ึ
้
ื
ู
ั
ุ
่
ี
่
ขอจํากัดทเกิดขนจากลกษณะรปทรงของอปกรณทเลอกใช
้
ึ
ี
-73-
